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StrobeLock 是 WITec alpha 300 显微镜系列的扩展组件之一，基于时间相关单光子计数（TCSPC）技术来实现样品荧光寿命测量。在超快脉冲激发荧光后，系统利用单光子器快速采集时间分辨荧光光谱或荧光衰减曲线。结合扫描共聚焦光学显微镜，快速采集每个像素点的荧光强度衰减曲线，进而可以获得所有位置的样品发光的重要信息，即荧光弛豫寿命。荧光寿命图像不仅可以直接反映样品荧光行为的局域差异性，例如，提取染料的荧光寿命信息可以得到荧光寿命成像（FLIM），也可以与Raman，AFM 或者 SNOM 等数据相结合，更深入地挖掘样品结构与性能的内在关系。
利用时间分辨发光显微镜，可以研究发光器件（例如 LEDs）的发光性质和空间差异性。在超快电脉冲发生器激发样品的发光后，采用单光子计数器记录其发光强度随时间的变化。TLM 成像可以并可视化展示出所有点的发光响应及弛豫时间，可应用于 LEDs 的质量控制。
荧光寿命成像显微镜（FLIM）利用超快脉冲激光激发样品荧光，通过扫描方式采集所有点的时间分辨荧光衰减曲线。FLIM 图像不仅直观呈现了样品发光寿命长短，也展示样品中荧光寿命的空间分布及微观差异。与其他成像技术相结合，如Raman 成像或者 AFM 成像，更深入挖掘样品结构与性能的内在关系。
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