原子力显微镜（AFM）

原子力显微镜(AFM)基于超尖锐的悬臂探针与样品之间的相互作用，获得样品表面原子级高分辨的形貌。AFM可以同时获得样品的横向与纵向空间信息。除高分辨的表面形貌信息，AFM探针与样品之间的力学相互作用同时反映出材料的局域力学性质，如粘附力和硬度等。

WITec公司的 alpha300 A原子力显微镜

WITec公司的 alpha300 A原子力显微镜基于研究级光学显微镜而设计，是一款可靠、高端的纳米成像系统，同时具有卓越的光学接入、简易悬臂定位与原子级高分辨率。采用高精度陶瓷扫描台及样品台扫描方式，AFM探针获得样品表面形貌图像。

该AFM采用光学显微镜配备高端相机，有助于高分辨率的样品挑选与测量。同时观测样品与AFM探针非常有利于样品定位及扫描区域调整。光学显微镜可实现更多的照明及检测方式，如明暗场，偏光分析及宽场荧光等，用户可以进一步挑选感兴趣的样品区域。用户只需旋转物镜轮塔，就可以在AFM与光学显微镜之间轻松切换，依旧保留光学显微镜与AFM性能。

Beam path

Simultaneous cantilever and sample view for easy identification and adjustment of the measurement position.

数字脉冲力模式

数字脉冲力模式（DPFM）是一种非共振的间歇接触模式。该模式不仅可以避免接触模式中探针对柔软样品表面的损失，同时还可以获得更多材料信息。

数字脉冲力模式（DPFM）已成AFM的常规模式，大大扩展了原子力显微镜在材料纳米力学性质方面的探测，如粘附力、刚度、黏度、能量耗散、接触时间与长程力等。该模式的扫描速度与接触或轻敲模式相当，测量频率高达几千像素。

数字脉冲力模式采用高速数据采集的电子线路，自由编译的调整发生器及实时数据分析模式。数据保存后，可进行大量的数据分析与后处理。

The DPFM electronics introduces a sinusoidal modulation to the z-piezo of the AFM with an amplitude of 10-500 nm at a user-selectable frequency between 100 Hz and 2 kHz, far below the resonance frequency of the cantilever. A complete force-distance cycle is carried out at this repetition rate resulting in the shown force signal.