Geologie

Geologie

FuidInclusion Garnet 3D small

Einschluss einer Flüssigkeit in Granat.

Die konfokalen Raman-Imagingsysteme von WITec sind exzellente Instrumente für eine umfassende Analyse geologischer Proben. Damit lassen sich Mineralien identifizieren und charakterisieren sowie mineralische Phasenübergänge in Hochdruck- und Ultra-Hochdruck-Experimenten beobachten.

Konfokales Raman-Imaging eignet sich hervorragend zur Darstellung der räumlichen Verteilung und Verbindung von Komponenten oder mineralischen Phasen sowie der chemischen Variationen. Solche Informationen, die für das Verständnis der Pobenzusammensetzung außerordentlich wichtig sind, können mit den bildgebenden Verfahren von WITec evaluiert werde. Diese reichen von Scans großer Bereiche im Zentimeter-Maßstab bis hin zu den feinsten Details mit einer Auflösung im Nanometer-Maßstab. Da die meisten geologischen Materialien für NUV, VIS und NIR bis zu einem gewissen Grad transparent sind, kann man mit dem konfokalem Setup der Raman-Mikroskope von WITec sogar dreidimensionale Informationen generieren.

Die vielseitigen Instrumente von WITec nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topographie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.

Anwendungsbeispiele

WITec Raman GeoScience Rock

Raman-Bild einer großen Fläche eines polierten Felsgesteins mit den zugehörigen Raman-Spektren.

WITec AFM Bacteria

Fossile Bakterien als AFM-Bild (im Pulsed Force Modus). Das Bild zeigt Unterschiede in der Adhäsion der Probenoberfläche.

WITec Drawing New Website

RISE-Mikroskopie (Raman-SEM) einer Diorit-Probe.

 

WITec Topographic Raman Rocksample

Topografisches, konfokales Raman-Bild einer abschüssigen Gesteinsprobe.

Imagingsysteme für die Geologie

Literatur

  • Application Note Geoscience

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    (5.6 MB)
  • Application Note 3D Raman Imaging

    PDF öffnen
    (1.3 MB)
  • Application Note RISE Microscopy (Raman-SEM)

    PDF öffnen
    (1.7 MB)
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