Polymere

Polymere

Polymere übernehmen eine wichtige Rolle in den modernen Materialwissenschaften. Mit ihren sehr unterschiedlichen mechanischen und chemischen Eigenschaften werden sie in fast jedem Anwendungsfeld eingesetzt und sind demzufolge sehr wichtig bei der Entwicklung neuer Materialien. Die vielseitigen Imagingsysteme von WITec ermöglichen eine umfassende Charakterisierung der physikalischen und chemischen Eigenschaften der Polymere in Nanometer-Maßstab.

WITec-Mikroskope nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topographie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.

WITec Raman SEM Polymer

RISE-Mikroskopie (Raman-SEM) einer Polymermischung.

Anwendungsbeispiele

WITec Raman AFM Modes Polymers

Raman-AFM-Bilder einer Polymermischung (identische Probenstelle).

WITec AFM phase fluoralkane

AFM-Phasenbild von langen Polymermolekülen.

WITec Raman Depth Profile Polymer Coating

Konfokales Raman-Tiefenprofil (z-Richtung) einer adhäsiven Polymerschicht auf Papier.

Imagingsysteme für die Polymerforschung

Literatur

  • Application Note Raman Depth Profiling of Polymer Coatings

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    (116 KB)
  • Application Note Polypropylene

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    (173 KB)
  • Application Note PS-PEP-PMMA Polymers

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    (372 KB)
  • Application Note Temperature Analysis of Polymers with AFM

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    (1.7 MB)
Zur Literatur

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