alpha300 RS

alpha300 RS – Kombinierte Raman-Mikroskopie und Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie

 

 

Das alpha300 RS ist ein Mikroskop für den Nutzer mit komplexen experimentellen Ansprüchen. Es bietet konfokales Raman-Imaging und Nahfeld-Mikroskopie mit einer Auflösung unterhalb der Beugungsgrenze. In diesem Gerät sind alle Eigenschaften des alpha300 S, des alpha300 R und viele AFM-Betriebsarten vereint. Damit ist es besonders für hochauflösende Raman-Imaging-Techniken wie Nahfeld-Raman-Imaging geeignet. 

alpha300S

Charakteristische Eigenschaften

  • Alle Eigenschaften der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 S (SNOM) in einem Gerät
  • Exzellente Kombination für hochauflösende Oberflächenmikroskopie (SNOM) und chemisches Imaging (Raman)
  • Ideal für Kombinationstechniken wie Nahfeld-Raman-Imaging
  • Nutzerfreundlicher Wechsel zwischen den Messtechniken durch Drehen des Objektivrevolvers
  • Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

 

Anwendungsbeispiel

alpha300RS Nearfield Raman Graphene

Links: Topografie-Bild von exfoliertem Graphen, anhand von Nahfeld-Raman-Messungen bestimmt. Korrespondierende Topografiekurve entlang der blauen Linie (Grafik links).

Rechts: G-Banden-Intensität des gleichen Bereiches der Probe als Nahfeld-Raman-Bild. Korrespondierende Intensität der G-Bande entlang der roten Linie (Grafik rechts).

Spezifikationen

Raman-Betriebsarten:

  • Raman-Spektral-Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
  • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
  • Bildstapel: 3D konfokales Raman-Imaging
  • Zeitreihen
  • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
  • Tiefenprofile an Einzelpunkten
  • Ultraschnelles Raman-Imaging (1300 Spektren pro Sekunde) optional erhältlich
  • Konfokale Fluoreszenz-Mikroskopie
  • Hellfeld-Mikroskopie
  • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC optional
  • Aufrüstung für EPI-Fluoreszenz-Anwendungen möglich

SNOM-Betriebsarten:

  • Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
  • Konfokale Mikroskopie-Modi:
    • Transmission
    • Reflektion
    • Fluoreszenz (optional)
    • SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Betriebsmodus des alpha300 A inbegriffen oder optional
    • Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
    • fixierte Belichtung von unten
    • Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)

AFM-Betriebsarten:

  • AFM-Modus
  • Kontakt-Modus
  • Reibungskraft-Modus
  • andere optional

Mikroskop-Eigenschaften:

  • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der AFM-Spitze
  • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
  • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 x 200 x 20 μm³ (andere Scanbereiche erhältlich

Probengröße:

  • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

 

Computer-Schnittstelle:

  • WITec Software zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

 

Literatur

  • Solutions for High-Resolution Confocal Raman Microscopy

    PDF öffnen
    (3.3 MB)
  • WITec alpha300 Brochure

    PDF öffnen
    (7.2 MB)
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