alpha300 S

alpha300 S – Bildgebung jenseits der Beugungsgrenze

Das alpha300 S ist ein benutzungsfreundliches Scanning Nahfeld Optisches Mikroskop (SNOM), das die Vorteile von SNOM, konfokaler Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie (AFM) in einem einzigen Gerät vereint. Der Wechsel zwischen den verschiedenen Mikroskopie-Modi erfolgt durch Drehung des Objektivrevolvers. Das alpha300 S verwendet spezielle, mikro-gefertigte SNOM Cantilever-Sensoren für optische Mikroskopie, die eine räumliche Auflösung jenseits der Beugungsgrenze ermöglichen.

Das Scanning Nahfeld Optische Mikroskop alpha300 S von WITec arbeitet mit einem speziellen Nahfeld-Objektiv. Es ist am Objektivrevolver angebracht und ermöglicht SNOM- und AFM-Messungen. Die mikro-gefertigten SNOM-Sensoren werden magnetisch an einem Ende des Objektivarms befestigt, so dass man simultan den Sensor wie auch die Probe sehen kann. Da der Arm dreidimensional beweglich ist, lässt sich der Cantilever schnell und präzise justieren. Alle Bewegungen werden über die WITec Control Software gesteuert. Das Objektiv fokussiert nicht nur den Anregungslaser, sondern auch den für die Distanzkontrolle benutzten abgelenkten Laserstrahl. Doe ultra-stabile Optik garantiert rauscharme Messungen ohne Interferenz zwischen den beiden Lasersystemen. Mit Standard-AFM-Cantilever-Sensoren lässt sich dieses alpha300 S auch als Rasterkraftmikroskop verwenden.

alpha300S

Charakteristische Eigenschaften

  • Räumliche Auflösung jenseits der Beugungsgrenze (ca. 60 nm lateral)
  • Einzigartige, patentierte SNOM Sensoren-Technologie
  • Anwendung in gasförmiger Umgebung und in Flüssigkeiten
  • Inklusive verschiedener AFM-Modi
  • Zerstörungsfreie, bildgebende Technik; keine oder nur minimale Probenvorbereitung nötig
  • Gerät aufrüstbar mit konfokalem Raman-Imaging

Anwendungsbeispiele

alpha300S surface plasmon

SNOM-Bild einer Oberflächen Plasmon-Polaritonwelle, ausgelöst an einem nano-strukturierten Metallgitter.

alpha300S chromosomes

SNOM-Bild menschlicher Metaphase-Chromosomen.

Spezifikationen

SNOM-Betriebsarten:

  • Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
  • Konfokale Mikroskopie-Modi:
    • Transmission
    • Reflektion
    • Fluoreszenz (optional)
    • SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Modi des alpha300 A inbegriffen oder optional
    • Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
    • fixierte Belichtung von unten
    • Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)

Mikroskop-Eigenschaften:

  • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der Mikroskopspitze
  • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der SNOM/AFM-Spitze in Transmission
  • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Mikroskopbasis mit aktivem Vibrations-Isolations-System
  • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 x 200 x 20 μm³ (andere Scanbereiche erhältlich)Probengröße:

Probengröße:

  • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

Computer-Schnittstelle:

  • WITec Software zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

Erweiterungen & Kombinationen

Literatur

Zur Literatur

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