Materialwissenschaften

Die Materialwissenschaften sind ausgesprochen interdisziplinär. Sie beschäftigen sich nicht nur mit der Erforschung und Entwicklung neuer Materialien, sondern auch mit der Verbesserung von Herstellungsprozessen und der Qualitätskontrolle von Produkten. WITec Imagingsysteme sind für umfassende Analysen in den Materialwissenschaften besonders geeignet, denn sie ermöglichen sowohl die Analyse der Oberflächenmorphologie wie auch der chemischen Zusammensetzung der Proben.

Die vielseitigen Instrumente von WITec nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topografie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.