Polymere übernehmen eine wichtige Rolle in den modernen Materialwissenschaften. Mit ihren sehr unterschiedlichen mechanischen und chemischen Eigenschaften werden sie in fast jedem Anwendungsfeld eingesetzt und sind demzufolge sehr wichtig bei der Entwicklung neuer Materialien. Die vielseitigen Imagingsysteme von WITec ermöglichen eine umfassende Charakterisierung der physikalischen und chemischen Eigenschaften der Polymere in Nanometer-Maßstab.

WITec-Mikroskope nutzen verschiedene bildgebende Verfahren, um aus den Messdaten möglichst umfassende Erkenntnisse zu gewinnen. Verschiedene Kombinationen können in einem Mikroskop-Aufbau miteinander kombiniert werden: konfokales Raman-Imaging, Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Konfokales Raman-Imaging liefert chemische Informationen, AFM detektiert Topographie, Struktur und physikalische Eigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion der Probenoberfläche. SNOM dagegen ermöglicht hochauflösende Messungen jenseits der Beugungsgrenze. Die Konfigurationen sämtlicher WITec-Instrumente können auf- bzw. nachgerüstet werden, so dass die Systeme um neue Analyseverfahren erweitert werden können.