alpha300 RA

alpha 300 RA - Chemische Mikroskopie und Oberflächen-Imaging in einem System

  • Die Raman-AFM-Kombination alpha300 RA war das erste integrierte Raman-AFM-System am Markt und noch immer setzt es Maßstäbe für kombinierte Raman-AFM-Instrumente. Das alpha300 RA vereint die Fähigkeiten des Raman-Mikroskopsystems alpha300 R  mit denen des Rasterkraftmikroskops alpha300 A. Die Kombination des leistungsstarken chemischen Imaging mit hochauflösender Oberflächendarstellung ermöglicht eine umfassende Probenanalyse.

    Mit dem alpha300 RA sind zwei komplementäre Imaging-Techniken in einem Instrument kompromisslos vereint worden. Im Sinne der Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit werden beide Betriebsmodi von einer Software gesteuert. Durch Drehen des Objektivrevolvers kann man zwischen den Imaging-Techniken wechseln. Dabei werden alle Parameter automatisch justiert, so dass man denselben Probenbereich mit beiden Techniken untersuchen kann. Die Software ermöglicht eine mühelose Korrelation zwischen Raman- und AFM-Resultaten und Überblendung der Bilder.

    Das alpha300 RA ist außerdem ideal für kombinierte Imaging-Techniken wie TERS (hochauflösendes Raman-Imaging) oder gleichzeitige Raman-AFM-Messungen.

  • alpha300RA AFM Mode transparent

Charakteristische Eigenschaften

    • Alle Funktionen der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 A (AFM) in einem Instrument
    • Exzellente Kombination umfassender Oberflächenanalyse im Nanometerbereich (AFM) mit chemischem Imaging (Raman)
    • Ideal für kombinierte Techniken wie simultane Raman-AFM-Messungen
    • Praktischer Wechsel zwischen den Messtechniken durch Rotation des Objektivrevolvers
    • Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

Anwendungsbeispiele

  • alpha300RA Raman AFM polymers
    Kombinierte Raman-AFM-Messung eines Polymers.
  • alpha300RA Raman AFM paper
    Konfokale Raman-AFM-Bilder: Holzextrakte auf Zellulosefasern. Farbkodiertes Raman-Bild mit eingeblendetem AFM-Bild.
  • alpha300RA Raman AFM stress in silicon
     Kombinierte Raman-AFM-Messung von Spannung in Silizium. Links: 10 x 10 µm² AFM-Bild mit Topografie und Tiefenprofil (unten). Rechts: Raman-Bild von demselben Probenbereich zeigt Spannung im Silizium. 

Spezifikationen

  • Raman-Betriebsarten:

    • Raman-Spektral-Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
    • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
    • Bildstapel: 3D konfokales Raman-Imaging
    • Zeitreihen
    • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
    • Tiefenprofile an Einzelpunkten
    • Ultraschnelles Raman-Imaging (1300 Spektren pro Sekunde) optional erhältlich
    • Konfokale Fluoreszenz-Mikroskopie
    • Hellfeld-Mikroskopie
    • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC optional
    • Aufrüstung für EPI-Fluoreszenz-Anwendungen möglich

    AFM-Betriebsarten:

    • Kontakt-Modus
    • AC-Modus (Tapping Mode)
    • Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
    • Lift Mode™
    • Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy MFM)
    • Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy EFM)
    • Phasenbild
    • Kraft-Abstands-Kurven
    • Nano-Manipulation/Lithografie
    • Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy LFM)
    • Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy CFM)
    • Strom-Spannungsmikroskopie
    • andere Modi optional

  • Mikroskop-Eigenschaften:

    • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
    • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
    • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung
    • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Ansicht der Probe und der SNOM/AFM-Spitze in Transmission
    • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
    • Mikroskopbasis mit Schwingungsisolierung
    • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 x 200 x 20 μm³ (andere Scanbereiche erhältlich)

    Probengröße:

    • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

    Computer-Schnittstelle:

    • WITec Software zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

    TERS:

    Das alpha300 RA Mikroskopsystem von WITec, das Raman- und AFM-Techniken in einem Gerät kombiniert, kann für TERS-Experimente eingesetzt werden. Die Beleuchtung kann flexibel gestaltet werden: von oben, unten oder von der Seite.

Literatur

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