Das alpha300 RA war das weltweit erste korrelative Raman-AFM-System auf dem Markt und noch immer setzt es die Maßstäbe bei kombinierten Raman-AFM-Systemen. Das alpha300 RA vereint alle Funktionen des Raman-Mikroskops alpha300 R  mit denen des Rasterkraftmikroskops alpha300 A. Die Kombination aus leistungsstarkem chemischem Imaging und nano-analytischer Oberflächenuntersuchung bietet eine umfassende Probencharakterisierung.

Mit dem alpha300 RA sind zwei komplementäre Imaging-Techniken in einem Instrument vereint worden. Im Sinne der Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit werden beide Betriebsmodi von derselben Software gesteuert. Durch Drehen des Objektivrevolvers kann man ganz einfach zwischen den Mikroskopietechniken wechseln. Dabei werden alle Parameter automatisch justiert, so dass exakt derselbe Probenbereich mit beiden Techniken untersucht werden kann. Die Software ermöglicht anschließend die Korrelation zwischen Raman- und AFM-Ergebnissen und die Überlagerung der Bilder.

Das alpha300 RA ist außerdem ideal geeignet für kombinierte Imaging-Techniken wie TERS (hochauflösendes Raman-Imaging) oder zeitgleiche Raman-AFM-Messungen.

• Alle Funktionen der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 A (AFM) in einem System integriert
• Großartige Kombination umfassender Nano-Oberflächenanalyse (AFM) mit chemischem Imaging (Raman)
• Ideal für kombinierte Techniken wie simultane Raman-AFM-Messungen
• Praktischer Wechsel zwischen den Messtechniken durch Rotation des Objektivrevolvers mit automatischer System-Justierung 
• Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

Raman Mikroskopietechniken

• Raman Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
• Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
• Bildstapel: 3D konfokales Raman-Imaging
• Zeitreihen
• Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
• Tiefenprofile an Einzelpunkten
• Ultraschnelles Raman Imaging optional erhältlich
• Konfokale Fluoreszenz-Mikroskopie
• Hellfeld-Mikroskopie
• Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC optional

AFM Techniken:

• Kontakt-Modus
• AC-Modus (Tapping Mode)
• Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
• Lift Mode™
• Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy MFM)
• Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy EFM)
• Phasenbild
• Kraft-Abstands-Kurven
• Nano-Manipulation/Lithografie
• Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy LFM)
• Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy CFM)
• Strom-Spannungsmikroskopie
• andere Modi optional

Mikroskop-Eigenschaften:

• Optisches Forschungsmikroskop mit 6x Objektivrevolver
• Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
• LED-Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung
• Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Ansicht der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
• Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
• Mikroskopbasis mit Schwingungsisolierung
• Piezo-getriebener Probentisch

Computer-Schnittstelle:

• WITec Software zur Kontrolle des Gerätes und des Messvorgangs, für Datenauswertung und -verarbeitung

TERS:

Das alpha300 RA Mikroskopsystem von WITec, das Raman- und AFM-Techniken in einem Gerät kombiniert, kann für TERS-Experimente eingesetzt werden. Die Beleuchtung kann flexibel gestaltet werden: von oben, unten oder von der Seite.