alpha300 RS

alpha300 RS – Kombinierte Raman- und Nahfeld-Mikroskopie

  • Das alpha300 RS erfüllt komplexe experimentelle Ansprüche: Es bietet konfokales Raman-Imaging und Nahfeld-Mikroskopie integriert in einem System und vereint alle Funktionen des Nahfeld-Mikroskops alpha300 S, des Raman Mikroskops alpha300 R und viele AFM-Techniken. Damit ist es auch für hochauflösende Raman-Imaging-Techniken wie Nahfeld-Raman-Imaging geeignet. 

  • alpha300S transparent

Charakteristische Eigenschaften

    • Alle Funktionen der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 S (SNOM) in einem Gerät
    • Exzellente Kombination aus hochauflösender Oberflächenmikroskopie (SNOM) und chemischem Imaging (Raman)
    • Ideal für Kombinationstechniken wie Nahfeld-Raman-Imaging
    • Nutzerfreundlicher Wechsel zwischen den Messtechniken durch Drehen des Objektivrevolvers und automatische Geräte-Justierung
    • Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

Anwendungsbeispiel

  • alpha300RS Nearfield Raman Graphene
    Links: Topografie-Bild von exfoliertem Graphen, anhand von Nahfeld-Raman-Messungen bestimmt. Korrespondierende Topografiekurve entlang der blauen Linie (Grafik links).Rechts: G-Banden-Intensität des gleichen Bereiches der Probe als Nahfeld-Raman-Bild. Korrespondierende Intensität der G-Bande entlang der roten Linie (Grafik rechts).

Spezifikationen

  • Raman Mikroskopietechniken

    • Raman Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
    • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
    • Bildstapel: 3D konfokales Raman Imaging
    • Zeitreihen
    • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
    • Tiefenprofile an Einzelpunkten
    • Ultraschnelles Raman Imaging optional erhältlich
    • Konfokale Fluoreszenzmikroskopie
    • Hellfeld-Mikroskopie
    • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC optional

    SNOM Techniken:

    • Scanning Nahfeld Optische Mikroskopie Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
    • Konfokale Mikroskopie-Modi:
      • Transmission
      • Reflektion
      • Fluoreszenz (optional)
      • SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Betriebsmodus des alpha300 A inbegriffen oder optional
      • Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
      • fixierte Belichtung von unten
      • Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)
  • AFM Techniken:

    • AFM-Modus
    • Kontakt-Modus
    • Reibungskraft-Modus
    • andere optional

    Mikroskop-Eigenschaften:

    • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
    • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
    • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der AFM-Spitze
    • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
    • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
    • Piezo-getriebener Probentisch

    Computer-Schnittstelle:

    • WITec Software zur Kontrolle des Gerätes und des Messvorgangs, für Datenauswertung und -verarbeitung

Literatur

Kontakt

  • Bitte füllen Sie alle Felder aus, damit wir Ihre Anfrage so rasch wie möglich bearbeiten können.

    Erklärung zum Datenschutz:

    Die im Kontaktformular angegebenen Informationen werden zur Bearbeitung Ihrer Anfrage verwendet. WITec und gegebenenfalls ein WITec Vertriebspartner werden Sie zu Marketingzwecken telefonisch, postalisch oder per E-Mail kontaktieren. Die Verarbeitung Ihrer Daten erfolgt im Einklang mit unserer Datenschutzerklärung. Sie können Ihr Einverständnis zur Nutzung Ihrer Daten jederzeit widerrufen.