Historie und Auszeichnungen

Historie und Auszeichnungen

  • Unsere Firmengeschichte begann mit der Entwicklung eines optischen Nahfeld-Mikroskops (Scanning Near-field Optical Microscopy, SNOM), das mit einer einzigartigen Sensoren-Technologie eine zuverlässige, optische Bildgebung mit höchster Auflösung ermöglicht. Außerdem führte WITec für die Rasterkraftmikroskopie (AFM) erfolgreich den Pulsed Force Mode (PFM) als zusätzlichen AFM-Modus ein, womit man neben der Topografie die lokale Steifigkeit und Adhäsion bestimmen kann.

    Mit der Entwicklung des ersten konfokalen Raman-Imaging-Systems im Jahre 1999 übertraf WITec alle bis dahin verfügbaren bildgebenden Raman-Techniken hinsichtlich Sensitivität, Geschwindigkeit und räumlicher Auflösung. Nun konnte die Raman-Spektroskopie erstmals zur dreidimensionalen, chemischen Bildgebung eingesetzt werden.

    WITec versteht sich weiterhin als technologischer Vorreiter und bringt kontinuierlich neue Technologien auf dem Markt:

    • 2010 präsentierte WITec das patentierte TrueSurface zur profilometrischen Analyse. 
    • 2014 stellte WITec das weltweit erste korrelative Raman Imaging und Scanning Electron (RISE) Mikroskop vor.
    • 2015 kommt das vollautomatische konfokale Raman Imaging Mikroskop apyron auf den Markt.
    • seit 2018 steht den Kunden das inverse konfokale Raman Imaging Mikroskop alpha300 Ri zur Verfügung.
    • fortlaufend wird die bestehende Produktlinie weiterentwickelt und an die Bedürfnisse der Kunden angepasst.

    Die WITec Produktlinie erhielt bereits mehrfach hochrangige Auszeichnungen und angesehene Preise.

    Durch den modularen Aufbau der WITec-Mikroskope können konfokale Raman- und Rastersonden-Mikroskopie in einem Gerät kombiniert werden.