Ciencia de Materiales

Ciencia de los materiales es un campo diverso que incluye tanto el desarrollo y pruebas de nuevas sustancias, como el refinamiento de los procesos de fabricación y control de calidad de los productos existentes. Los sistemas de imagen de WITec están particularmente capacitados para el análisis de muestras en ciencia de materiales y cuentan con la capacidad de realizar análisis completos de la muestra, tanto de su composición química como de su morfología.

Ejemplos de aplicación

Imagen Raman Confocal-Topográfica de un tornillo de metal obtenida con TrueSurface. Estudio de contaminación en las roscas.
Estrés en Silicio obtenida midiendo el corrimiento del peak de Silicio. Azul: Estrés de comprensión; Amarillo: Estrés de relajación.

Los instrumentos altamente versátiles de WITec pueden combinar varias técnicas de imágenes para incrementar significativamente los conocimientos proporcionados por los resultados de la medición. Las combinaciones posibles que pueden ser incluidas en una configuración son: microscopio Raman confocal de imágenes, microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de campo cercano (SNOM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). Las imágenes Raman-Confocal ofrecen información química, las de AFM registran la topografía, la estructura y las propiedades físicas de la superficie, como rigidez y adherencia, las de SNOM permiten medidas de alta resolución superando el límite de difracción. Todas las configuraciones de instrumentos de WITec pueden ampliarse en cualquier momento para adaptar el sistema a nuevos requerimientos o actualizarlo a nuevas tecnologías y desarrollos.
Imagen de topografía AFM de una superficie de acero.
Imagen Raman Confocal de una membrana porosa, fibras (rojas), poros rellenos con aceite (azul) y partículas de TiO2 (verde).